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Julian Zoller, M.Sc.

Julian Zoller, M.Sc.

Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Ablösung von Partikelstrukturen von Einzelfasern
Gruppe: 

Gas-Partikel-Systeme (GPS)


Raum: 011
CS 30.70

Tel.: +49 721 608-46568
julian zollerRbv5∂kit edu

Institut für Mechanische Verfahrenstechnik und Mechanik
Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Geb. 30.70
Straße am Forum 8
D-76131 Karlsruhe



Forschungsthema

Untersuchung der Mechanismen von Bildung, Umlagerung und Ablösung reaktiv-inerter Partikelstrukturen an umströmten zylindrischen Kollektoren in gasförmiger Umgebung

Tiefenfilter werden zur Gasreinigung in vielen technischen Anwendungen wie der Klimatechnik, bei Reinräumen und zur Reinigung von Abgasen eingesetzt. Die Abscheidung geschieht im Inneren einer porösen Filterstruktur, sodass die Partikeln tief in das Filtermedium eindringen können. Ein Ablösen bereits abgeschiedener Partikeln und somit ein schrittweises Wandern durch den Filter ist bei den meisten Anwendungsfällen nicht zu befürchten. Reaktive Anteile in den abgeschiedenen Strukturen können jedoch durch Reaktion zu Umlagerungs- und Ablösevorgängen abgeschiedener Partikelstrukturen führen. Diese Vorgänge sind beispielsweise in Rußpartikelfiltern relevant und sollen in diesem Forschungsprojekt grundlegend an einzelnen Filterfasern erforscht werden.

 

              

               Abbildung: Aufnahme der Umlagerungs- und Ablösevorgänge von Partikeln auf einer einzelnen Faser.
               Die Faser wird mit Luft bei 440°C und 0,4 m/s angeströmt.

 

Zu vergebende Bachelor- und Masterarbeiten
Titel Typ Datum
Bachelor- oder Masterarbeit ab September 2019
Bachelorarbeit ab sofort


Veröffentlichungen
Titel Autor Quelle

J. Zoller, J. Gulden, J. Meyer, A. Dittler

Aerosol Science and Engineering, 2020, https://doi.org/10.1007/s41810-020-00054-6



Konferenzbeiträge
Titel Tagung Autoren

FILTECH 2019 - The Filtration Event

J. Zoller, J. Meyer, A. Dittler

Jahrestreffen der ProcessNet-Fachgruppen Mechanische Flüssigkeitsabtrennung und Gasreinigung

J. Zoller, F. Klingel, J. Meyer, A. Dittler