Home | deutsch  | Legals | Sitemap | KIT
Infobox 4542

Untersuchung von nanoskaligen Partikeln mittels der Röntgenstreuungsmethode SWAXS

Untersuchung von nanoskaligen Partikeln mittels der Röntgenstreuungsmethode SWAXS
chair:Charakterisierung von Nanopartikeln
type:Studien-, Bachelor-, Master- oder Diplomarbeit
time:Ab sofort
tutor:

Dr. Xiaoai Guo

Die Verwendung von Nanopartikeln in der Forschung sowie in der industriellen Produktion, z.B. Erzeugung von Nanopartikel mit neuartiger physikalischer Synthesemethode, erfordert den Einsatz geeigneter Messtechniken, mit denen die Partikeleigenschaften bestimmt werden können. Im Vergleich zu den traditionellen Nanopartikel Messmethoden wie Transmissionselektronenmikroskropie (TEM) zeigt die Röntgenstreuungsmethode einen großen Vorteil - die gleichzeitige Bestimmung von nahezu allen Partikeleigenschaften durch eine zerstörungsfreie Messung.

In dieser Arbeit sollen die Eigenschaften von nanoskaligen Partikeln, wie Primärpartikel- und  Agglomeratgröße, spezifische Oberfläche, massenfraktale Dimension und die Dicke der Oberflächengrenzschicht mit Hilfe der Röntgenkleinwinkelstreuung (SAXS) untersucht werden. Des Weiteren ist die Kristallinität der Partikel, Kristallphasenwechsel, Phasenidentifikation und Kristallgrößenbestimmung mittels der Röntgenweitwinkelstreuung (WAXS) zu analysieren. Dabei sollen gasgetragene Nanopartikel (Aerosole), Suspensionen und Pulver untersucht werden.

Abbildung: Versuchsaufbau der Laborkamera.

Bei Interesse an diesem Thema komme einfach vorbei oder schreibe eine E-Mail.

Termin: nach Absprache
Kontakt: Dr.-Ing. Xiaoai Guo
Tel: 0721 / 608- 42409
E-Mail: xiaoai.guo@kit.edu
Gebäude 30.70, Raum 020.1 (EG)